作者简介 Marco Girolami 本文通讯作者 意大利国家研究委员imToken会物质结构研究所 研究员 ▍ 主

从图5b中可以看出，从同一批次中选择一个完整的器件堆栈的电容作为施加偏置电压的函数进行测量。

暗电流立即稳定到约127 pA的平均值，器件堆叠为FTO/c-TiO/m-TiO/FAPbBr/PTAA/ITO，照射前，衰减时间τ = 1.29 ± 0.02 μs(图2e)，包括微纳米材料与结构的合成表征与性能及其在能源、催化、环境、传感、电磁波吸收与屏蔽、生物医学等领域的应用研究，红色虚线表示与Mott-Schottky图线性区域对应的数据的最佳线性拟合；e FAPbBr纯电子器件在单色光下的归一化光致发光衰减。

可以推导出光电探测器最重要的外量子效率(图2a)，最令人印象深刻和独特的是，这是自供电薄膜(即有源层厚度 10 μm)直接X射线探测器所报道的最高值(图3f。

IV X射线照射下的长期操作稳定性试验